型號：NAR-1T
更新時間：2025-09-27
簡要描述：
日本ATAGO（愛拓）DR-M4（1550）是測量液晶材料雙折射樣品Z適宜的型號，被廣泛的應用于液晶材料的檢測中，可提供波長范圍450nm至1550nm，折射率1.3278至1.9220范圍內的檢測。
測量低折射指數與高折射指數的阿貝折射儀
除了我們標準型阿貝折射儀NAR-1T, 2T, 3T, 4T 與 DR-A1，我們亦提供以下阿貝模塊。如果我們標準型的阿貝折射儀無法符合您的需求，我們將請您使用以下模塊。
其它選擇
* 我們可以提供測量范圍在「nD 1.7000 至 2.0800」的溫度為「0 至 50°C」或「0 至 120°C」的阿貝折射儀。
請注意：因為以上的阿貝折射儀具有與我們標準型阿貝折射儀1T 與 2T的相同標度，您將會被要求將測量的折射指數轉換為「實際折射指數」（附有轉換表）。
 
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